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- 2019
导电密封条贮存寿命评价试验方法研究DOI: 10.12136/j.issn.1000-890X.2019.04.0311 Keywords: [导电密封条,贮存寿命,试验评价,失效机理, 导电密封条,贮存寿命,试验评价,失效机理] Abstract: 分析导电密封条的贮存环境条件影响及失效机理，确定贮存期的典型环境条件，以老化失效机理作为分析对象，基于时间-温度叠加的加速寿命预测模型，以单一温度为加速试验条件，设计导电密封条成品贮存加速寿命试验方法，可在较短的时间内评价导电密封条的贮存寿命。导电密封条贮存10年的加速寿命试验条件确定为：温度 100 ℃，相对湿度 5%，试验时间 28.3 d
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