%0 Journal Article
%T 导电密封条贮存寿命评价试验方法研究
%A 唐庆云
%A 张钟文
%A 林婷婷
%A 王学孔
%A 钟云龙
%J -
%D 2019
%R 10.12136/j.issn.1000-890X.2019.04.0311
%X 分析导电密封条的贮存环境条件影响及失效机理，确定贮存期的典型环境条件，以老化失效机理作为分析对象，基于时间-温度叠加的加速寿命预测模型，以单一温度为加速试验条件，设计导电密封条成品贮存加速寿命试验方法，可在较短的时间内评价导电密封条的贮存寿命。导电密封条贮存10年的加速寿命试验条件确定为：温度　100 ℃，相对湿度　5%，试验时间　28.3 d
%K [导电密封条
%K 贮存寿命
%K 试验评价
%K 失效机理
%K 导电密封条
%K 贮存寿命
%K 试验评价
%K 失效机理]
%U http://www.rubbertire.cn/gy/xjgy/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=XJ2018-0198&flag=1