超大规模集成电路可调试性设计综述

Keywords: [调试, 验证, 硅后验证, 并行程序调试, 可调试性设计, debug, verification, post-silicon verification, parallel program debugging, design-for-debug ]

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Abstract:

随着硬件复杂度的不断提高和并行软件调试的需求不断增长,可调试..

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