%0 Journal Article
%T 超大规模集成电路可调试性设计综述
%A 沈海华
%A 陈云霁
%A 陈天石
%A 钱  诚
%J -
%D 2012
%X 随着硬件复杂度的不断提高和并行软件调试的需求不断增长,可调试..
%K [调试
%K 验证
%K 硅后验证
%K 并行程序调试
%K 可调试性设计
%K debug
%K verification
%K post-silicon verification
%K parallel program debugging
%K design-for-debug ]
%U http://crad.ict.ac.cn/CN/Y2012/V49/I1/21