面向非易失内存的数据一致性研究综述

DOI: 10.7544/issn1000-1239.2020.20190062

Keywords: [新型非易失内存, 非易失内存, 相变存储器, 系统故障, 一致性, novel non-volatile memory, non-volatile memory (NVM), phase change memory (PCM), system failure, consistency]

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Abstract:

随着DRAM技术面临密度扩展瓶颈以及高泄漏功耗问题，新型非易..

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