水平温梯冷凝法生长ZnGeP2单晶
Keywords: 磷锗锌,水平温梯冷凝法,X射线粉末衍射,红外透过率,热导率
Abstract:
采用高纯(6N) Ge、Zn、P单质为原料,按化学计量比并富P0.2%配料,通过双温区法合成ZnGeP2多晶粉料,再用水平温梯冷凝法(HGF)生长出尺寸达10×20×80mm3的单晶棒。对单晶进行了X射线衍射、红外透过率、热导率等测试,测试结果表明:单晶完整性好,红外透过率较高;5mm厚晶片(未退火、镀膜)在2~8μm范围内平均透过率可达54%以上;在室温附近(297.34K)热导率为35.89W/mK
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