A位La掺杂的单晶化合物Sr2IrO4电输运特性

摘要： 5 d强自旋轨道耦合氧化物Sr2IrO4中的电输运物理是该领域存在争议的一个科学问题。本研究应用flux法成功制备(Sr1-xLax)2IrO4(x=0, 0.01, 0.02, 0.03, 0.05)等系列单晶样品, 并通过综合物性测量仪对样品电输运特性进行表征。研究表明: 随着La掺杂浓度的增加, 样品体系电阻率显著下降, 并在x≥0.03时出现金属性(dρab/dT>0)。通过对样品电阻率的一系列拟合发现, 未掺杂的Sr2IrO4单晶样品在高温部分(T>140 K)和较低温区(40 K