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ISSN: 2333-9721
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-  2018 

团簇V3BP电子自旋密度的研究

DOI: 10.13543/j.bhxbzr.2018.03.003

Keywords: 团簇V3BP,稳定性,密度泛函理论,自旋密度分布

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基于密度泛函理论,对B3LYP/Lanl2dz赝势基组水平的V3BP的11种优化构型通过分析其电子自旋密度分布进行稳定性的研究。结果表明:团簇V3BP最稳定构型1(4)外围电子自旋密度分布均匀,对称性好;内部原子间成键强弱均匀,对称性好;最不稳定构型8(2)外围α电子和β电子交替分布且分布不均匀,对称性差且极不规整;内部原子间成键强度各不相同,同一类型键原子间成键强弱也不均匀;团簇V3BP各优化构型的外围电子分布由α电子和β电子共同组成,且α电子所占比例较大;构型2(4)、1(2)、4(2)、8(2)内部原子间成键后均为β电子过剩,其余构型内部原子间成键后均为α电子过剩。

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