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ISSN: 2333-9721
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X-射线粉末衍射K值法测定钴粉中α-Co的含量

DOI: 10.3969/j.issn.1001-4616.2017.04.015

Keywords: X-射线粉末衍射, K值法, 钴粉

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Abstract:

本文通过X-射线粉末衍射(powder X-ray diffraction,PXRD)K值法定量分析钴粉中α-Co的含量,测定时选用纯α-Co作为标样,α-Al2O3为参比物质,测得K值为4.58,并用此K值测定3批样品钴粉中α-Co的含量,结果较为准确,相对标准偏差分别为0.49、0.59、1.16,加标回收率分别为99%、99.43%、99.93%. 该方法具有方便快速、简单实用的优点,适用于工厂中不同晶型钴粉的快速定量分析

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