%0 Journal Article
%T X-射线粉末衍射K值法测定钴粉中α-Co的含量
%A 戴苏云
%A 李 钢
%A 沈晓敏
%A 王 冰
%J 南京师范大学学报(自然科学版)
%D 2017
%R 10.3969/j.issn.1001-4616.2017.04.015
%X 本文通过X-射线粉末衍射(powder X-ray diffraction,PXRD)K值法定量分析钴粉中α-Co的含量,测定时选用纯α-Co作为标样,α-Al2O3为参比物质,测得K值为4.58,并用此K值测定3批样品钴粉中α-Co的含量,结果较为准确,相对标准偏差分别为0.49、0.59、1.16,加标回收率分别为99%、99.43%、99.93%. 该方法具有方便快速、简单实用的优点,适用于工厂中不同晶型钴粉的快速定量分析
%K X-射线粉末衍射
%K K值法
%K 钴粉
%U http://njsfdxzrb.paperonce.org/oa/darticle.aspx?type=view&id=201704015