OALib Journal期刊
ISSN: 2333-9721
费用:99美元
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掺v_2o_5对sno_2气敏性能的影响
Keywords: sno_2,掺杂,电学行为,前线轨道
Abstract:
?研究了修v2o5对sno2元件电阻和稳定性的影响.掺杂后,稳定性提高但灵敏度下降;掺杂量0.56wt%肘,电阻上升.利用量子化学分析机理.结果表明:由于v5+的掺入,提高了sno2晶胞前线轨道及材料的稳定性;在掺杂量少时,由于氧原子的空穴态和锡原子的电子态增加,使材料的电阻下降,在掺杂量多时,因电子输运轨道受阻导致电阻增大.
References
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