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OALib Journal期刊
ISSN: 2333-9721
费用：99美元
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直接观察位错结构的扫描电镜电子通道衬度技术
Keywords: 扫描电镜,电子通道衬度技术,铜单晶体,位错结构
Abstract:
？介绍了扫描电镜(sem)电子通道衬度(ecc)技术.该技术可以很好地观察材料中位借结构,用这种技术观察受循环载荷作用的铜单晶中的典型位错结构,与常规的tem方法观察结果基本一致.
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