%0 Journal Article
%T 直接观察位错结构的扫描电镜电子通道衬度技术
%A 胡运明
%A 陈道伦
%A 苏会和
%A 王中光
%J 材料研究学报
%D 1997
%X ？介绍了扫描电镜(sem)电子通道衬度(ecc)技术.该技术可以很好地观察材料中位借结构,用这种技术观察受循环载荷作用的铜单晶中的典型位错结构,与常规的tem方法观察结果基本一致.
%K 扫描电镜
%K 电子通道衬度技术
%K 铜单晶体
%K 位错结构
%U http://www.cjmr.org/CN/abstract/abstract15837.shtml