用双晶衍射法测定超微细粉粒度

？本文讨论了用x射线双晶衍射法测定超微细粉粒度及其分布时,测量背底的来源、它的扣除及实验数据校正等问题,使高精度的x射线双晶法实际用于小角散射测量成为可能。