%0 Journal Article
%T 用双晶衍射法测定超微细粉粒度
%A 曹宏
%J 武汉理工大学学报
%D 1992
%X ？本文讨论了用x射线双晶衍射法测定超微细粉粒度及其分布时,测量背底的来源、它的扣除及实验数据校正等问题,使高精度的x射线双晶法实际用于小角散射测量成为可能。
%K x射线双晶衍射
%K 超微细粉
%K 小角散射
%U http://www.whlgdxxb.com.cn//qikan/Cpaper/zhaiyao.asp?bsid=27717