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武汉理工大学学报 2009
ito薄膜导电机理紫外?红外光谱分析Keywords: ito薄膜,载流子浓度,红外光谱,紫外光谱,burstein?moss移动 Abstract: ?采用射频磁控溅射方法在石英玻璃基片上制备ito薄膜,结合薄膜面电阻和微观结构,采用红外、紫外光谱特征分析薄膜的导电机理。结果表明:在相同氧分压下随温度升高紫外吸收波长向短波方向移动,光学带隙展宽,红外等离子共振吸收波长向短波方向移动;随氧分压增加紫外吸收波长明显向长波方向移动,光学带隙变窄,红外等离子共振吸收波长向长波方向移动;根据burstein?moss移动理论及xrd、afm结果,说明温度升高改善ito薄膜结晶程度,提高sn掺杂效率,载流子浓度增加;相同温度条件下随氧分压的增加使氧空位减少,载流子减少,并且氧分压的影响更为显著。
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