%0 Journal Article
%T ito薄膜导电机理紫外？红外光谱分析
%A 余刚
%A 赵芳红
%A 刘益环
%J 武汉理工大学学报
%D 2009
%X ？采用射频磁控溅射方法在石英玻璃基片上制备ito薄膜，结合薄膜面电阻和微观结构，采用红外、紫外光谱特征分析薄膜的导电机理。结果表明：在相同氧分压下随温度升高紫外吸收波长向短波方向移动，光学带隙展宽，红外等离子共振吸收波长向短波方向移动；随氧分压增加紫外吸收波长明显向长波方向移动，光学带隙变窄，红外等离子共振吸收波长向长波方向移动；根据burstein？moss移动理论及xrd、afm结果，说明温度升高改善ito薄膜结晶程度，提高sn掺杂效率，载流子浓度增加；相同温度条件下随氧分压的增加使氧空位减少，载流子减少，并且氧分压的影响更为显著。
%K ito薄膜
%K 载流子浓度
%K 红外光谱
%K 紫外光谱
%K burstein？moss移动
%U http://www.whlgdxxb.com.cn//qikan/Cpaper/zhaiyao.asp?bsid=31794