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天津大学学报(自然科学与工程技术版) 2006
薄基区异质结晶体管的负阻特性与分析, PP. 109-113 Keywords: 异质结晶体管,负阻特性,薄基区,电路模拟 Abstract: 采用分子束外延方法生长了8nm基区的ingap-gaas双异质结材料,研制成具有负阻特性的异质结晶体管.该晶体管可以集成在高速高频的数字逻辑电路中,大大减少了器件数目.讨论了薄基区负阻异质结晶体管的负阻特性及其物理机制.器件负阻特性的产生与其结构密切相关,包括导带势垒尖峰和基区宽度负反馈效应.推出了物理公式,并且使用pspice模拟软件建立了电路模型.模拟结果符合制作器件的测量结果.
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