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ISSN: 2333-9721
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软件学报  2014 

基于高斯过程的缺陷定位方法

DOI: 10.13328/j.cnki.jos.004430, PP. 1169-1179

Keywords: 缺陷定位,缺陷修复,缺陷报告,推荐方法,高斯过程

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Abstract:

在软件系统中,缺陷定位是缺陷修复的一个关键环节,如果能将缺陷自动定位到很小的范围,将会极大地降低缺陷修复的难度.基于高斯过程提出了一种缺陷定位方法(gpbl),即针对每个缺陷,向开发人员推荐这个缺陷可能存在于哪些源文件中,从而帮助开发人员快速修复缺陷.为了验证方法的有效性,采集了开源软件eclipse和argouml中的数据,实验结果表明,高斯过程缺陷定位的查全率和查准率平均分别为87.16%和78.90%.与基于lda的缺陷定位方法进行比较,表明高斯过程更能准确定位缺陷的位置.

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