%0 Journal Article
%T 基于高斯过程的缺陷定位方法
%A 陈理国？
%A 刘超？
%J 软件学报
%P 1169-1179
%D 2014
%R 10.13328/j.cnki.jos.004430
%X 在软件系统中，缺陷定位是缺陷修复的一个关键环节，如果能将缺陷自动定位到很小的范围，将会极大地降低缺陷修复的难度.基于高斯过程提出了一种缺陷定位方法（gpbl），即针对每个缺陷，向开发人员推荐这个缺陷可能存在于哪些源文件中，从而帮助开发人员快速修复缺陷.为了验证方法的有效性，采集了开源软件eclipse和argouml中的数据，实验结果表明，高斯过程缺陷定位的查全率和查准率平均分别为87.16%和78.90%.与基于lda的缺陷定位方法进行比较，表明高斯过程更能准确定位缺陷的位置.
%K 缺陷定位
%K 缺陷修复
%K 缺陷报告
%K 推荐方法
%K 高斯过程
%U http://www.jos.org.cn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=4430&flag=1