10.6μm激光辐照下光学薄膜的微弱吸收测量

？建立了表面热透镜技术测量光学薄膜微弱吸收的实验装置，对10.6μmco2激光辐照下镀制在ge基底上的不同厚度的单层zns，ybf3薄膜，以及镀制在ge基底上不同膜系的（ybf3/znse）多层分光膜的弱吸收进行了测量，并对实验结果作了分析和讨论。实验结果表明，利用本实验系统已测得的待测样品的最低吸收为2.87×10-4，测量系统的灵敏度为10-5。