%0 Journal Article
%T 10.6μm激光辐照下光学薄膜的微弱吸收测量
%A 杨富
%A 黄伟
%A 张彬
%A 齐文宗
%A 蔡邦维
%J 强激光与粒子束
%P 0-0
%D 2004
%X ？建立了表面热透镜技术测量光学薄膜微弱吸收的实验装置，对10.6μmco2激光辐照下镀制在ge基底上的不同厚度的单层zns，ybf3薄膜，以及镀制在ge基底上不同膜系的（ybf3/znse）多层分光膜的弱吸收进行了测量，并对实验结果作了分析和讨论。实验结果表明，利用本实验系统已测得的待测样品的最低吸收为2.87×10-4，测量系统的灵敏度为10-5。
%K 面热透镜技术
%K 微弱吸收
%K 光学薄膜
%K 10.6μmco2激光
%U http://www.hplpb.com.cn/CN/abstract/abstract654.shtml