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强激光与粒子束 2012
z箍缩等离子体均匀色散晶体光谱成像, PP. 357-360 Keywords: z箍缩等离子体,弯晶谱仪,均匀色散,晶体分析器,x射线诊断 Abstract: ?为了诊断z箍缩等离子体x射线相关信息,利用自聚焦和均匀色散原理,研制了一种新型的均匀色散弯晶谱仪。晶体分析器采用α-石英(1010),布拉格角为43.4°~72.7°,利用有效面积为10mm×50mm的x射线胶片接收光谱信号,实验在中国工程物理研究院阳加速器装置上进行,摄谱元件获得了z箍缩铝丝阵等离子体的类h及类he谱线。实验结果表明:谱线分布遵循均匀色散条件,所研制均匀色散弯晶谱仪线色散率为-116.198mm/nm,与理论值-120mm/nm的相对误差为3.168%,能够用于z箍缩等离子体x射线的光谱学研究。
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