%0 Journal Article
%T z箍缩等离子体均匀色散晶体光谱成像
%A 鲁建
%A 阳庆国
%A 肖沙里
%A 黄显宾
%A 蔡红春
%J 强激光与粒子束
%P 357-360
%D 2012
%X ？为了诊断z箍缩等离子体x射线相关信息，利用自聚焦和均匀色散原理，研制了一种新型的均匀色散弯晶谱仪。晶体分析器采用α-石英（1010），布拉格角为43.4°~72.7°，利用有效面积为10mm×50mm的x射线胶片接收光谱信号,实验在中国工程物理研究院阳加速器装置上进行，摄谱元件获得了z箍缩铝丝阵等离子体的类h及类he谱线。实验结果表明：谱线分布遵循均匀色散条件，所研制均匀色散弯晶谱仪线色散率为-116.198mm/nm，与理论值-120mm/nm的相对误差为3.168%，能够用于z箍缩等离子体x射线的光谱学研究。
%K z箍缩等离子体
%K 弯晶谱仪
%K 均匀色散
%K 晶体分析器
%K x射线诊断
%U http://www.hplpb.com.cn/CN/abstract/abstract4960.shtml