再发射技术测量sgⅱ黑腔靶早期对称性

？利用再发射技术能够有效测量早期辐射驱动对称性。2011年在神光ⅱ激光装置上，采用bi替代靶，通过改变靶丸的支撑方式和优化探测器配置，利用分幅相机获得较高信噪比的bi球表面再发射图像。利用实验结果获得了入射流不对称性p2分量随时间的变化，对比两种腔长的黑腔，p2分量随时间的变化存在明显差别。两种腔p2分量随时间的变化趋势与采用视角因子模拟的结果基本一致。