%0 Journal Article
%T 再发射技术测量sgⅱ黑腔靶早期对称性
%A 陈伯伦
%A 蒋炜
%A 景龙飞
%A 袁铮
%A 黎航
%A 余波
%A 蒲昱东
%A 苏明
%A 晏骥
%A 黄天晅
%A 江少恩
%A 刘慎业
%A 杨家敏
%A 丁永坤
%J 强激光与粒子束
%P 385-388
%D 2013
%X ？利用再发射技术能够有效测量早期辐射驱动对称性。2011年在神光ⅱ激光装置上，采用bi替代靶，通过改变靶丸的支撑方式和优化探测器配置，利用分幅相机获得较高信噪比的bi球表面再发射图像。利用实验结果获得了入射流不对称性p2分量随时间的变化，对比两种腔长的黑腔，p2分量随时间的变化存在明显差别。两种腔p2分量随时间的变化趋势与采用视角因子模拟的结果基本一致。
%K 再发射
%K 早期不对称性
%K p2分量
%K bi替代靶
%U http://www.hplpb.com.cn/CN/abstract/abstract7138.shtml