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ISSN: 2333-9721
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x射线在重金属-二氧化硅界面的剂量增强的模拟计算

, PP. 0-0

Keywords: x射线,界面,辐射损伤,剂量增强因子

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Abstract:

?当x射线射入不同材料组成的界面时,在低z材料的一侧将产生剂量增强。介绍了界面剂量增强效应的基本原理,并用mcnp蒙特-卡洛程序计算了钨-二氧化硅、钽-二氧化硅界面的剂量增强因子。计算结果表明在x射线能量为100~150kev时,界面附近二氧化硅一侧存在较大的剂量增强。

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