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Keywords: 射频磁控溅射,锗膜,formvar膜,干涉条纹位移法,应力
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?介绍了x光激光薄膜锗靶的制备工艺,在厚度为90nm的formvar膜上,采用磁控溅射技术沉积30~60nm厚的锗膜。对锗膜的应力进行了初步的测试与分析,制得的薄膜经干涉仪测量符合要求。
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