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Keywords: 晶态氧化物,mos晶体管,硅基集成,新材料
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?国际半导体技术发展进程表预期器件的特征尺寸不久将减小到01μm以下,sio-2作为mos器件栅介质遇到不可克服的困难.人们在寻找新的栅介质材料时,提出了一种新的结构,称为半导体上的晶态氧化物(cos).最近,cos被用作si衬底上生长gaas的过渡层,成为半导体材料和器件发展中一项新的突破.文章对这一结构的进展情况做一简要介绍.
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