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ISSN: 2333-9721
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物理  2010 

pmos金属栅极材料的研究进展

, PP. 0-0

Keywords: pmos,金属栅极,高k栅介质,功函数,界面偶极子

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Abstract:

?随着金属氧化物半导体场效应管(metal-oxide-semiconductorfield-effecttransistors,mosfets)等比缩小迈向45nm技术节点,金属栅极已应用于新型mosfet器件,改善了与高k栅介质的兼容性,并消除了传统多晶硅栅极的栅耗尽及硼穿透等效应.文章综述了pmos器件金属栅极材料的发展历程、面临的主要问题以及未来的研究趋势等.

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