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ISSN: 2333-9721
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物理  1992 

工业中的现代表面分析技术(ⅰ)主要仪器和方法简介

, PP. 0-0

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Abstract:

?本文扼要地介绍了几种工业中常用的现代表面分析仪器和方法,如俄歇电子谱(aes)、x-射线光电子谱(xps)[或称化学分析用电子谱(esca)]、二次离子质谱(sims)等的基本工作原理、仪器结构、使用方法及其特点,简单讨论了与表面分析有关的超高真空技术、样品表面的清洁、离子束溅射及无损检测等问题.

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