%0 Journal Article
%T 工业中的现代表面分析技术(ⅰ)主要仪器和方法简介
%A 范垂祯
%A 杨得全
%A 陈宇
%J 物理
%P 0-0
%D 1992
%X ？本文扼要地介绍了几种工业中常用的现代表面分析仪器和方法，如俄歇电子谱（ａｅｓ）、ｘ－射线光电子谱（ｘｐｓ）［或称化学分析用电子谱（ｅｓｃａ）］、二次离子质谱（ｓｉｍｓ）等的基本工作原理、仪器结构、使用方法及其特点，简单讨论了与表面分析有关的超高真空技术、样品表面的清洁、离子束溅射及无损检测等问题．
%U http://www.wuli.ac.cn/CN/abstract/abstract28997.shtml