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ISSN: 2333-9721
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物理  1993 

掠入射x射线衍射在表面、界面和薄膜材料结构研究中的应用

, PP. 0-0

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Abstract:

?掠入射x射线衍射是80年代以来发展的一种新的结构分析技术.其贯穿深度小,信噪比高,分析深度可以控制,因而适用于对表面或界面重构、多层膜和超晶格结构分析.简要介绍掠入射x射线衍射有关理论和方法及其应用.

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