%0 Journal Article
%T 掠入射x射线衍射在表面、界面和薄膜材料结构研究中的应用
%A 崔树范
%J 物理
%P 0-0
%D 1993
%X ？掠入射ｘ射线衍射是８０年代以来发展的一种新的结构分析技术．其贯穿深度小，信噪比高，分析深度可以控制，因而适用于对表面或界面重构、多层膜和超晶格结构分析．简要介绍掠入射ｘ射线衍射有关理论和方法及其应用．
%U http://www.wuli.ac.cn/CN/abstract/abstract29066.shtml