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ISSN: 2333-9721
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电子学报  2003 

基于蚁群算法的测试集优化

, PP. 1178-1181

Keywords: 蚁群算法,测试集优化,故障诊断

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Abstract:

电路集成度和复杂度的不断增加使电路故障诊断变得愈加困难.其中,测试集优化问题是电路故障诊断的关键问题之一.本文以新颖的蚁群算法为基础,较好地解决了测试集的优化问题,并通过实验证明了该算法的良好性能.

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