%0 Journal Article
%T 基于蚁群算法的测试集优化
%A 俞龙江
%A 彭喜源
%A 彭宇
%J 电子学报
%P 1178-1181
%D 2003
%X 电路集成度和复杂度的不断增加使电路故障诊断变得愈加困难.其中,测试集优化问题是电路故障诊断的关键问题之一.本文以新颖的蚁群算法为基础,较好地解决了测试集的优化问题,并通过实验证明了该算法的良好性能.
%K 蚁群算法
%K 测试集优化
%K 故障诊断
%U http://www.ejournal.org.cn/CN/abstract/abstract5947.shtml