基于遗传排序的测试集优化

测试集优化是数字电路测试的一个基本问题.本文提出了一种基于遗传排序的测试集优化方法,采用遗传算法对测试集的"矢量-故障"矩阵的行向量排列顺序进行优化,并采用行列消去法作为适应度评估方法.实验结果表明,基于遗传排序的测试集优化方法有效地减少了测试矢量的数目,而且保证了所得的测试集中不包含冗余测试矢量.