%0 Journal Article
%T 基于遗传排序的测试集优化
%A 乔家庆
%A 付平
%A 尹洪涛
%J 电子学报
%P 2335-2338
%D 2007
%X 测试集优化是数字电路测试的一个基本问题.本文提出了一种基于遗传排序的测试集优化方法,采用遗传算法对测试集的"矢量-故障"矩阵的行向量排列顺序进行优化,并采用行列消去法作为适应度评估方法.实验结果表明,基于遗传排序的测试集优化方法有效地减少了测试矢量的数目,而且保证了所得的测试集中不包含冗余测试矢量.
%K 测试集优化
%K 遗传算法
%K 行列消去法
%U http://www.ejournal.org.cn/CN/abstract/abstract871.shtml