一九八○年二月十六日云南地区日全食的电离层效应
, PP. 359-363
Keywords: 日食,电离层效应,电子浓度,E层,日全食,云南地区,兆周,半厚度,虚高,F层
Abstract:
本文借助于Budden的频高图分析方法,分析了云南省瑞丽县弄岛街1980年2月16日日全食期间的电离层资料,计算了日食日及控制目的剖面,给出了剖面参数,得到了E层临频及最大电子浓度所在高度在日食过程中的变化,也研究了F层的日食效应,指出了在各选定频率上的反射虚高和真高在日食过程中的变化,发现在300公里以下的各给定高度上,尤其是在270公里附近的高度上,其电子浓度明显地下降。
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