%0 Journal Article
%T 一九八○年二月十六日云南地区日全食的电离层效应
%A 宋笑亭
%A 刘培静
%A 李永生
%J 地球物理学报
%P 359-363
%D 1981
%X 本文借助于Budden的频高图分析方法,分析了云南省瑞丽县弄岛街1980年2月16日日全食期间的电离层资料,计算了日食日及控制目的剖面,给出了剖面参数,得到了E层临频及最大电子浓度所在高度在日食过程中的变化,也研究了F层的日食效应,指出了在各选定频率上的反射虚高和真高在日食过程中的变化,发现在300公里以下的各给定高度上,尤其是在270公里附近的高度上,其电子浓度明显地下降。
%K 日食
%K 电离层效应
%K 电子浓度
%K E层
%K 日全食
%K 云南地区
%K 兆周
%K 半厚度
%K 虚高
%K F层
%U http://manu39.magtech.com.cn/Geophy/CN/abstract/abstract5289.shtml