半导体桥上尖角、圆孔对其电爆性能的影响(英)
DOI: 10.3969/j.issn.1006-9941.2009.03.023
Keywords: 应用化学 ,火工品 ,半导体桥 ,发火时间 ,发火消耗能量
Abstract:
设计了14种带有尖角和圆孔的半导体桥，研究了在电容放电发火条件下尖角、圆孔对其发火时间、发火所消耗的能量等性能参数的影响规律，并从半导体桥的作用机理方面对实验结果进行了分析。结果表明，SCB上V型尖角使得SCB发火时间和发火所消耗的能量明显降低，而圆孔对SCB发火性能影响不明显。
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