基于偏光干涉效应的低双折射光纤拍长测试方法

展示了一种低双折射光纤拍长测试方法。光路由ASE光源、可调F-P滤波器、两个线偏振器、待测光纤和相位补偿器组成。应用相位检测方法降低环境因素引入的误差,使用相位补偿器保证测试系统工作点位于光强对相位变化敏感处。搭建测试系统并进行了实际测量,系统检测可重复性良好。该方法对实验设备要求不高,对于待测光纤的长度没有限制,可测拍长范围达到20m,测量精度达1%。