%0 Journal Article
%T 基于偏光干涉效应的低双折射光纤拍长测试方法
%A 徐宏杰
%A 冯宇
%J 红外与激光工程
%P 4066-4071
%D 2014
%X 展示了一种低双折射光纤拍长测试方法。光路由ASE光源、可调F-P滤波器、两个线偏振器、待测光纤和相位补偿器组成。应用相位检测方法降低环境因素引入的误差,使用相位补偿器保证测试系统工作点位于光强对相位变化敏感处。搭建测试系统并进行了实际测量,系统检测可重复性良好。该方法对实验设备要求不高,对于待测光纤的长度没有限制,可测拍长范围达到20m,测量精度达1%。
%K 拍长
%K 低双折射光纤
%K 相位检测
%U http://irla.csoe.org.cn/CN/Y2014/V43/I12/4066