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红外与毫米波学报 1996
缺陷俘获势垒测定新方法——瞬态光霍耳谱Keywords: 瞬态光霍耳谱（TPHS）,深能级瞬态谱（DLTS）,DX中心,俘获势垒 Abstract: 以瞬态光霍尔测量为基础，建立了直接观测俘获过程的深中心分析测试新手段．该方法不需要做肖特基结、ｐ－ｎ结、或ＭＩＳ结构，几乎可在零电场下测量缺陷参数，克服电场、德拜带尾、非指数瞬态等对缺陷特性的影响，也克服了深能级瞬态谱技术（ＤＬＴＳ）只能通过载流子发射过程间接测量俘获参数的缺点．用此方法测量了Ｇａ０．７Ａｌ０．３Ａｓ中ＤＸ中心的俘获势垒
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