唯一性检测在椭圆偏振光谱薄膜拟合中的应用

利用椭圆偏振光谱进行薄膜样品的测量数据分析拟合时，薄膜厚度与介电常数通常具有一定的关联性.不同色散模型的选取也会对拟合结果产生明显的影响，引起较大误差.介绍了唯一性检测在椭偏拟合中的实现方法.并以二氧化钛样品为例，利用唯一性检测对比了不同色散模型、不同厚度、不同测量波段、不同入射角度时的唯一性检测结果.结果表明，唯一性检测能够有效标定出椭偏测量和拟合过程中所产生的误差，同时能够对不同色散模型进行量化对比，提升拟合精度