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ISSN: 2333-9721
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红外热成像无损检测缺陷的一种新方法

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Abstract:

通过脉冲加热阶段的红外无损检测一维理论模型，提出了一种评估缺陷深度信息的新算法，并给出了有限元模拟检测结果，分析了缺陷大小及脉冲加热时间对检测结果的影响、分析表明，该方法具有较高的检测精度．

References

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