%0 Journal Article
%T 红外热成像无损检测缺陷的一种新方法
%J 红外与毫米波学报
%D 2000
%X 通过脉冲加热阶段的红外无损检测一维理论模型，提出了一种评估缺陷深度信息的新算法，并给出了有限元模拟检测结果，分析了缺陷大小及脉冲加热时间对检测结果的影响、分析表明，该方法具有较高的检测精度．
%K 红外热成像无损检测有限元模拟脉冲加热时间拉普拉斯变换数据处理缺陷深度检测
%U http://journal.sitp.ac.cn/hwyhmb/hwyhmbcn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=200006112&flag=1