一种Flash型FPGA单粒子效应测试方法设计及验证

随着现场可编程门阵列(FieldProgrammableGateArray,FPGA)在现代航天领域的广泛应用，FPGA的单粒子效应(SingleEventEffect,SEE)逐渐成为人们的研究热点。选择Microsemi公司Flash型FPGA分布范围最广的可编程逻辑资源VersaTile和对单粒子效应敏感的嵌入式RAM单元RAMBlock作为单粒子效应的主要测试对象，提出了两种不同的单粒子效应测试方法；然后，使用仿真工具ModelSim对提出的两种电路的可行性进行了仿真验证；最后，基于自主研发的实验测试平台，在兰州重离子加速器(HeavyIonResearchFacilityinLanzhou,HIRFL)上使用86Kr束进行了束流辐照实验，实验结果表明，测试方法合理有效。