%0 Journal Article
%T 一种Flash型FPGA单粒子效应测试方法设计及验证
%A 杨振雷
%A 王晓辉
%A 苏弘
%A 刘杰
%A 杨海波
%A 成科
%A 童腾
%J 核技术
%P 20404-20404
%D 2015
%R 10.11889/j.0253-3219.2015.hjs.38.020404
%X 随着现场可编程门阵列(FieldProgrammableGateArray,FPGA)在现代航天领域的广泛应用，FPGA的单粒子效应(SingleEventEffect,SEE)逐渐成为人们的研究热点。选择Microsemi公司Flash型FPGA分布范围最广的可编程逻辑资源VersaTile和对单粒子效应敏感的嵌入式RAM单元RAMBlock作为单粒子效应的主要测试对象，提出了两种不同的单粒子效应测试方法；然后，使用仿真工具ModelSim对提出的两种电路的可行性进行了仿真验证；最后，基于自主研发的实验测试平台，在兰州重离子加速器(HeavyIonResearchFacilityinLanzhou,HIRFL)上使用86Kr束进行了束流辐照实验，实验结果表明，测试方法合理有效。
%K 现场可编程门阵列
%K 单粒子效应
%K VersaTile
%K RAMBlock
%U http://www.j.sinap.ac.cn/hejishu/CN/abstract/abstract352.shtml