基于独立分量分析的光电耦合器件可靠性时域筛选方法
, PP. 1242-1247
Keywords: 半导体技术,光电耦合器件,可靠性,低频噪声,时域分析,独立分量分析,虚拟仪器,半导体技术,光电耦合器件,可靠性,低频噪声,时域分析,独立分量分析,虚拟仪器
Abstract:
针对目前光电耦合器件可靠性筛选方法的不足,提出了用独立分量分析(ICA)的方法对噪声信号进行时域分析,并利用ICA中峭度和熵两个参量讨论了各种基本噪声的特性。根据这些特性,应用ICA方法把各基本噪声从噪声信号中分离出来,并给出了时域下器件的可靠性分类规则。
Full-Text